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X荧光光谱仪 / 手持式X荧光光谱仪——Terra
手持式镀层分析仪
镀层厚度测量在加工行业的表面处理环节中起着重要的作用,是确保产品达到优等质量的必要手段。镀层的厚度与生产成本密切相关,鉴于某些金属市场价格的波动,如果镀层太厚对于加工企业来说很容易造成损失。反之,镀层太薄则将无法达到性能指标或外观要求而造成返工或退货。基于X射线荧光(XRF)的镀层厚度测量是一种被广泛接受和被业界认可的分析技术。
0519-83550835
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产品介绍

新一代Terra980手持式XRF镀层厚度分析仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界领先。无论是生产过程中对镀层厚度的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,Terra980都能够满足您的检测的需求。Terra980分析镀层厚度具有快速、准确、非破坏、非接触、可进行多层合金测量,高效率、高再现性等优点,可以帮助用户实现产品质量管理并节约成本。

使用优势
快速易用
实现镀层厚度及成分分析的秒级检测速度,体积小巧,便于携带;
高精确度
采用进口陶瓷封装微型X射线源和高性能半导体探测器,有效提高测试精度;
操作简单
直观用户见面,几乎不需要培训,配备大尺寸高清晰触摸显示屏;
智能操控
全自动智能控制,一键式测量;
一机多用
可在未知镀层成分时快速分析镀层厚度及组成,轻松针对标准镀层实现镀层分析标准化;
坚固耐用
坚固耐用、符合IP54标准,防水防振,可在恶劣环境下工作.
规格参数
激发源陶瓷封装微焦点X射线管,银靶50KV
探测器高性能Si-Pin探测器/SDD探测器(石墨烯窗口)
分辨率140eV FWHM/129eV FWHM
滤光片智能多位
窗口kapton窗口片,可选碳纤维防扎窗口
准直器5mm(可选3mm)
电池7.2V锂离子,6800mAh
显示器电容触摸式彩色显示屏(5寸)
CPUi.MX 8M Mini四核1 .8GHz
多道处理器4096像元多道分析器/80 MHz ADC数字信号处理器
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%
数据储存超10万条数据储存
数据传输WiFi、USB
结构设计独特的AXRUNI机构设计,有效增加光管散热
辐射与安全Safety Guard 感应设置,无样品时光管自动关闭,提供大限度的安全保护
摄像头(选配)集成CCD微观摄像头,带自动聚焦透镜,用于定位和记录测点位置
分析元素Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Hf、Ta、Re、Cu、Zn、W、Se、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Al、Pd、Ag、Sn、Sb、Pt、Au、Ru、Ir、Rh等
运行环境温度:-10℃~50℃,湿度:相对湿度0%~80%(非冷凝)
仪器重量1.5KG(含电池)
仪器尺寸220mm*91mm*276mm(长*宽*高)
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