新一代Terra980手持式XRF镀层厚度分析仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界领先。无论是生产过程中对镀层厚度的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，Terra980都能够满足您的检测的需求。Terra980分析镀层厚度具有快速、准确、非破坏、非接触、可进行多层合金测量，高效率、高再现性等优点，可以帮助用户实现产品质量管理并节约成本。